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2018
9.18

X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題

X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題：（1）當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。（4）產品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團...
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2018
9.17

X射線衍射XRD工作原理

X射線衍射XRD工作原理：分析原理：X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產生大強度的光束稱為X射線的衍射線。
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2018
9.17

電感耦合高頻等離子體ICP工作原理

電感耦合高頻等離子體ICP工作原理分析原理：利用氬等離子體產生的高溫使用試樣*分解形成激發(fā)態(tài)的原子和離子，由于激發(fā)態(tài)的原子和離子不穩(wěn)定，外層電子會從激發(fā)態(tài)向低的能級躍遷，因此發(fā)射出特征的譜線。通過光柵等分光后，利用檢測器檢測特定波長的強度，光的強度與待測元素濃度成正比。
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2018
9.17

原子吸收光譜AAS工作原理

分析原理：通過原子化器將待測試樣原子化，待測原子吸收待測元素空心陰極燈的光，從而使用檢測器檢測到的能量變低，從而得到吸光度。吸光度與待測元素的濃度成正比。
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2018
9.17

掃描隧道顯微鏡STM工作原理

分析原理：隧道電流強度對針尖和樣品之間的距離有著指數依賴關系，根據隧道電流的變化，我們可以得到樣品表面微小的起伏變化信息，如果同時對x-y方向進行掃描，就可以直接得到三維的樣品表面形貌圖，這就是掃描隧道顯微鏡的工作原理。譜圖的表示方法：探針隨樣品表面形貌變化而引起隧道電流的波動提供的信息：軟件處理后可輸出三維的樣品表面形貌圖
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2018
9.17

原子力顯微鏡AFM工作原理

分析原理：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的作用力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將在垂直于樣品的表面方向起伏運動。從而可以獲得樣品表面形貌的信息譜圖的表示方法：微懸臂對應于掃描各點的位置變化提供的信息：樣品表面形貌的信息
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2018
9.11

掃描電子顯微技術SEM應用原理

掃描電子顯微技術SEM分析原理：用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等提供的信息：斷口形貌、表面顯微結構、薄膜內部的顯微結構、微區(qū)元素分析與定量元素分析等
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2018
9.11

透射電子顯微技術TEM應用原理

分析原理：高能電子束穿透試樣時發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象譜圖的表示方法：質厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結構和晶格與缺陷等
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